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解析事例

めっき試作・開発案件・不具合品など 様々な製品の 評価・解析(原因調査)を行っています。
今回は マイクロスコープ、SEM/EDSを用いた 表面・断面解析した例につきご紹介します。

【事例1】無めっきが発生した 亜鉛ダイカスト素材の製品
 目的:無めっきの原因調査。
 実施内容:マイクロスコープおよびSEMにて 表面観察。EDSにて表面の組成確認。

 結果:離型剤 残渣がめっき析出を阻害していた。


                     
【事例2】素材径 約35μmの極細線材にめっき加工した製品
 目的:めっき膜厚およびボイドなどの不具合がないか?確認。
 実施内容:クロスセクションポリッシャーにて 断面観察用サンプル作製。
マイクロスコープおよびSEMにて断面観察、膜厚確認。EDSにて組成確認。

マイクロスコープにて観察・測定        SEM観察         EDS(元素マッピング)

 結果:銅めっき膜厚11~13μm。(膜厚指定:10~15μm)
    ボイドなどの析出不具合もなく、均一にめっきが析出していた。

その他 蛍光X線膜厚計、塩水噴霧試験機、耐摩耗試験機、表面張力計、ICP発光分光分析装置
なども保有しております。弊社で加工しているものではなくても 解析依頼をお受けしており
ますのでご相談下さい。(めっき専業者様からのご依頼はお断りさせて頂いております。)

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